《SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术》
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书名:SiC/GaN功率半导体封装和可靠性评估技术
作者:菅沼克昭
出版:机械工业出版社,2021, ISBN:9787111669531
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2022-12-28桂林理工大学图书馆,2022年12月 排名第 16
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书籍鼓舞了我的智慧和心灵,它帮助我从腐臭的泥潭中脱身出来,如果没有它们,我就会溺死在那里面,会被愚笨和鄙陋的东西呛住。
——高尔基